Omar Castillo Vargas

Laboratorio A9. Propiedades Ópticas de Películas Delgadas

Adquisición de espectros elipsométricos, reflectancia y transmitancia. La espectroscopia elipsométrica determina el cambio en el estado de polarización que experimenta la luz al ser reflejada por una muestra. Con el análisis de espectros ópticos es posible determinar:
      

  • Espesores: de 1 nm a 3 μm.
  • Índices de refracción y coeficientes de extinción.
  • Función dieléctrica compleja.
  • Ancho de banda prohibida.
  • Transiciones electrónicas.
  • Rugosidad superficial e interfacial.
  • Composición.
  • Cristalinidad.

Entre las aplicaciones se incluyen:

  • Materiales semiconductores y dieléctricos.
  • Recubrimientos ópticos antirreflejantes.
  • Vidrios recubiertos.
  • Películas metálicas delgadas.
  • Polímeros.
  • Materiales compuestos.
  • Materiales electrocrómicos.
  • Óxidos metálicos, aleaciones, etc.

  •  Elipsómetro espectroscópico de modulación de fase (Horiba-Jobin Yvon)

  • Sistema FilmTek 3000 (Scientific Computing, Inc.)

  • Espectrómetro con fibras ópticas (Ocean Optics)

 
  • Dr. Arturo Mendoza Galván
    Investigador
    amendoza@cinvestav.mx



Laboratorio
(442) 2119900 ext. 1507

 

Ubicación

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