Difracción de Rayos X

La difracción de rayos X (XRD) es una técnica analítica no destructiva utilizada para estudiar la estructura cristalina de los materiales. Se basa en la interacción de un haz de rayos X con los planos cristalinos.
Cuando se cumplen las condiciones de la ley de Bragg, los rayos X se difractan y generan un patrón característico que depende de la disposición de los átomos en la red cristalina.

Este patrón permite: Identificar fases cristalinas (análisis cualitativo), determinar proporciones relativas (análisis cuantitativo) y calcular parámetros de red, tamaño de cristalita, microdeformaciones, % cristalinidad, entre otros.

Servicios

Análisis Cualitativo: Identificación de Fases Cristalinas por XRD

El análisis cualitativo mediante difracción de rayos X tiene como objetivo identificar las fases cristalinas presentes en una muestra sólida (polvos, recubrimientos, cerámicos, metales, polímeros, arcillas, etc). Se basa en comparar el patrón de difracción experimental (2θ vs. intensidad) con patrones estándar contenidos en bases de datos como ICDD (PDF-5+2025).
Cada compuesto cristalino genera un patrón único de difracción, como una "huella digital", determinado por su estructura atómica y parámetros de celda. Mediante el reconocimiento de posiciones e intensidades de picos, se identifican las fases presentes en la muestra, incluso si existen en forma de mezclas.

Análisis Cuantitativo de Fases Cristalinas por XRD

El análisis cuantitativo por difracción de rayos X (XRD) permite determinar las proporciones relativas de las fases cristalinas presentes en una muestra. A diferencia del análisis cualitativo, que identifica las fases, el análisis cuantitativo calcula el porcentaje en peso (cuantitativo) o volumen (semicuantitativo) de cada una.
Se basa en la intensidad relativa de los picos de difracción asociados a cada fase. Para realizarlo, se utilizan métodos como el RIR (Reference Intensity Ratio) para el análisis semi-cuantitativo o el refinamiento estructural por Rietveld (Fullprof Suite) para análisis cuantitativo; que consideran no solo la intensidad de los picos, sino también factores como la cristalinidad, absorción y parámetros estructurales.

Beneficios

Calidad Cinvestav

Norma ISO 9001

Requisitos

Incluir los riesgos de las muestras.
El solicitante proporcionará los crisoles de medición.
Cantidad de muestra: El tamaño promedio de muestra a entregar es un mínimo de 10 g de muestra homogénea en vial o bolsa plástica bien cerrada. Muestras en polvo: el molido debe ser fino. Muestras en bulto: disco de 4mm, espesor máximo 1 mm, o rebabas con una base plana.
Intervalos de operación del equipo DSC: -70°C a 700°C. Tasas de calentamiento: 10°C/min (normal), 5°C/min (lenta), 20°C/min (rápida).
Una evaluación de riesgos desfavorable para el equipo o personal, puede cancelar su solicitud. 6. Entregue las muestras en recipientes cerrados y etiquetados claramente, todas ellas contenidas en una bolsa plástica transparente rotulada con su nombre y nombre del Investigador Cinvestav responsable.

Equipos

Rigaku Modelo Ultima IV y Rigaku Modelo Dmax2100: Son difractómetros de alto rendimiento, diseñados para la identificación, caracterización y análisis estructural de materiales cristalinos.
Utilizan la geometría de difracción tipo Bragg-Brentano θ–2θ (BB) y la geometría de difracción tipo Parallel Beam 2θ (PB) ; son altamente versátiles; cuenatn con fuentes generadoras de rayos X con tubo sellado de Cu/ Co,
Goniómetro de precisión con rango angular típico de 1° a 126° 2θ. Alta reproducibilidad y estabilidad para mediciones; detectores de centelleo (scintillation counter) o de posición (según configuración) y son adecuados para aplicaciones en investigación, control de calidad, caracterización de materiales y desarrollo e industria.

Contacto

Laboratorio de Rayos X
martinhernandez@cinvestav.mx
Tel. 4422119900. ext. 1547

Coordinación Técnica
ctecnica.qro@cinvestav.mx
Tel. 4422119919

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