Laboratorio A2. Difracción de Rayos X

La difracción de rayos X (XRD) es una técnica analítica no destructiva utilizada para estudiar la estructura cristalina de los materiales. Se basa en la interacción de un haz de rayos X con los planos cristalinos.
Cuando se cumplen las condiciones de la ley de Bragg, los rayos X se difractan y generan un patrón característico que depende de la disposición de los átomos en la red cristalina.

Este patrón permite: Identificar fases cristalinas (análisis cualitativo), determinar proporciones relativas (análisis cuantitativo) y calcular parámetros de red, tamaño de cristalita, microdeformaciones, % cristalinidad, entre otros.

 

  • Rigaku Modelo Ultima IV
  • Rigaku Modelo Dmax2100

 

Son difractómetros de alto rendimiento, diseñados para la identificación, caracterización y análisis estructural de materiales cristalinos.
Utilizan la geometría de difracción tipo Bragg-Brentano θ–2θ (BB) y la geometría de difracción tipo Parallel Beam 2θ (PB) ; son altamente versátiles; cuenatn con fuentes generadoras de rayos X con tubo sellado de Cu/ Co,
Goniómetro de precisión con rango angular típico de 1° a 126° 2θ. Alta reproducibilidad y estabilidad para mediciones; detectores de centelleo (scintillation counter) o de posición (según configuración) y son adecuados para aplicaciones en investigación, control de calidad, caracterización de materiales y desarrollo e industria.

 
  • Dr. Jesús González Hernández
    Resposable técnico LIDTRA
    jesusgonzalez@cinvestav.mx
  • Q. en A. Martín Adelaido Hernández Landaverde
    Auxiliar de Investigación
    jalfredoms@cinvestav.mx


Laboratorio
(442) 2119900 ext. 1547

 

Ubicación

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06/12/2024 02:26:46 p. m.
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